Сканирующий электронный микроанализатор LEO EVO 50XVP (Carl Zeiss)

14 сентября 2018
221
Классификация оборудования
Страна, регион, город Российская Федерация, Москва
Страна производства Германия
Год производства 2007
Предоставляемое количество 1
Условия использования
Аренда|Заказ исследования
Стоимостная группа от 1 до 10 млн. руб.
Стоимость предоставления услуг от 6 000 руб.
Регламент предоставления услуги —
Объект коллективного пользования Нет
Наличие аккредитации Нет
Наличие ГОСТированной методики Нет

Описание

Исследование морфологии и микроструктуры наноматериалов. Разрешение в высоком вакууме 3 нм, при низком вакууме 4.5 нм. Ускоряющее напряжение 200В - 30кВ, шаг - 10В. Увеличение в диапазоне 5 - 1 000 000х
Найти аналог
Вам может быть интересно
Наименование Страна производства Условия использования Расположение
Растровый электронный микроскоп JSM-6490LV (JEOL) Япония Аренда, Заказ исследования Москва
Растровый электронный микроскоп Philips 535 Нидерланды Аренда, Заказ исследования Санкт-Петербург
Микроскоп электронный просвечивающий с системой цифрового захвата и обработки изображения Нидерланды Аренда, Заказ исследования Томск
Просвечивающий электронный микроскоп СМ 30 (Philips) Германия Аренда, Заказ исследования Томск
Микроскоп "JEM-200 СХ" электронный, инв.№: 2180 Китай Аренда, Заказ исследования Москва
Растровый низковакуумный электронный микроскоп с термоэмиссионным катодом JEOL JS-6610LV (JEOL, Oxford Instruments) Великобритания Аренда, Заказ исследования Курск
Микроскоп электронный растровый JSM-T20 РФ Аренда, Заказ исследования Оренбург
Растровый электронный микроскоп JSM-6460LV (JEOL) с приставкой рентгеновского микроанализа INCAx-sight, приставкой регистрации спектров микро-катодолюминес-ценции MonoCL3 и приставкой регистрации дифракции обратно-рассеянных электронов Япония Аренда, Заказ исследования Москва
Электронный микроскоп ТМ-1000 (Hitachi) Япония Аренда, Заказ исследования Новосибирск
Растровый электронный микроскоп-литограф МС20.2 РФ Аренда, Заказ исследования Петрозаводск