Установка для получения поперечных срезов ионным пучком SM-09020CP (JEOL)
14 сентября 2018
551
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2010 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 30 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Прибор используется для подготовки поперечных срезов образцов для исследований в растровом электронном микроскопе, в частности, при помощи детектора картин дифракции обратно-рассеянных электронов или волнодисперсионного спектрометра. Использование аргонового пучка позволяет сохранить тонкую кристаллическую структуру керна в ненарушенном состоянии с сохранением ориентации микрокристаллов, внутренних напряжений и т.д.