Сканирующий зондовый микроскоп «NanoEducator» (SPMO1Ed):
14 сентября 2018
314
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Ивановская область, Иваново |
| Страна производства | РФ |
| Год производства | 2008 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Позволяет анализировать на атомарном уровне структуру самых разных материалов. Используется для определения микрорельефа поверхности, с его помощью можно наблюдать всевозможные несовершенства структуры и оценивать размеры наблюдаемых объектов. Исследование рельефа поверхности осуществляется атомно-силовым микроскопом Solver 47 Pro в полуконтактном режиме с программным обеспечением (программа NOVA, фирма NT – MDT, версия 1.26), кантилевер – NSG11, резонансная частота – 150 кГц, скорость сканирования порядка 10 мкм/с, величина амплитуды колебания зонда составляла 30 – 50 нм. Будет использован для анализа структуры рельефа хиральных фаз.