| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2010 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 15 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Является основой исследовательского комплекса, позволяющего изучать поверхностную и внутреннюю микро- и наноструктуру образцов, элементный состав, а также дифракцию микрокристаллов на поверхности образцов. При помощи энергодисперсионной приставки проводится экспресс-анализ состава образца. Волнодисперсионный спектрометр позволяет получать более точные данные, в том числе о содержании легких элементов. Приставка для анализа картин дифракции обратно-рассеянных электронов дает возможность анализировать ориентацию микрокристаллов, проводить гранулометрический анализ.