Классификация оборудования | |
Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
Страна производства | Япония |
Год производства | 2010 |
Предоставляемое количество | 1 |
Условия использования | |
Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
Стоимость предоставления услуг | от 15 000 руб. |
Регламент предоставления услуги | — |
Объект коллективного пользования | Нет |
Наличие аккредитации | Нет |
Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Является основой исследовательского комплекса, позволяющего изучать поверхностную и внутреннюю микро- и наноструктуру образцов, элементный состав, а также дифракцию микрокристаллов на поверхности образцов. При помощи энергодисперсионной приставки проводится экспресс-анализ состава образца. Волнодисперсионный спектрометр позволяет получать более точные данные, в том числе о содержании легких элементов. Приставка для анализа картин дифракции обратно-рассеянных электронов дает возможность анализировать ориентацию микрокристаллов, проводить гранулометрический анализ.