Электронный растровый микроскоп c приставками для измерения катодолюминесценции и элементного анализа методом EDS JSM 7001FA (JEOL)
14 сентября 2018
936
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2009 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 42 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Наблюдения структуры поверхности образца с разрешением 2нм; локальный анализ элементного состава (1мкм2 ) методом энергодисперсионной спектрометрии (EDX); катодолюминесцентный анализ (CLD)