Электронный растровый микроскоп c приставками для измерения катодолюминесценции и элементного анализа методом EDS JSM 7001FA (JEOL)

14 сентября 2018
644
Классификация оборудования
Страна, регион, город Российская Федерация, Москва
Страна производства Япония
Год производства 2009
Предоставляемое количество 1
Условия использования
Аренда|Заказ исследования
Стоимостная группа от 1 до 10 млн. руб.
Стоимость предоставления услуг от 42 000 руб.
Регламент предоставления услуги
Объект коллективного пользования Нет
Наличие аккредитации Нет
Наличие ГОСТированной методики Нет

Описание

Наблюдения структуры поверхности образца с разрешением 2нм; локальный анализ элементного состава (1мкм2 ) методом энергодисперсионной спектрометрии (EDX); катодолюминесцентный анализ (CLD)
Найти аналог
Вам может быть интересно
Наименование Страна производства Условия использования Расположение
Стенд TM-1000 tabletop SEM для настольного электронного сканирующего микроскопа TM-1000 (Hitachi) Япония Аренда, Заказ исследования Москва
Высоковакуумная низкотемпературная система «PlasmoScope-2M» для исследования нанорельефа, магнитных и тепловых свойств наноструктур методами АСМ/СТМ/МСТ РФ Аренда, Заказ исследования Москва
Настольный автоматический напылительный комплекс токопроводящих покрытий для растровой электронной микроскопии Quorum Technologies Q150T ES Великобритания Аренда, Заказ исследования Краснодар
Система для исследования наноразмерных объектов на базе сканирующего зондового микроскопа Solver PRO-M (НТ-МДТ) РФ Аренда, Заказ исследования Санкт-Петербург
Программно-технический комплекс для автоматизации научных исследований биологических объектов(клеток) LSM 710 LIVE (Carl) Германия Аренда, Заказ исследования Владивосток
Дифрактометрический модуль для растрового электронного микроскопа EVO 40 EBSD-120404-SPB-1(Oxford Instruments) Великобритания Аренда, Заказ исследования Санкт-Петербург
Электромеханическая ячейка "GPI" с прецизионной механикой и электронным блоком управления процессом изготовления игл для СТМ РФ Аренда, Заказ исследования Москва
Комплект приставок для проведения тонких исследований на трансмиссионном электронном микроскопе Tecnai 20 Великобритания Аренда, Заказ исследования Новосибирск
Комплект приставок для проведения тонких исследований на электронном микроскопе EV 050 XVP Великобритания Аренда, Заказ исследования Новосибирск
Камера для микроскопа Nikon DS-Fi2 5.0 Mega Pixels Color Digital Camera Head Япония Аренда, Заказ исследования Петропавловск-Камчатский