Растровый электронный микроскоп CamScan-s4 (Cambridge)
14 сентября 2018
302
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | Великобритания |
| Год производства | 1988 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 12 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для исследования топографии и фазового состава поверхности объекта с разрешением не хуже 10 нм. Широкий диапазон ускоряющих напряжений (от 0.5 до 40 кэв.). На основе растрового электронного микроскопа «CAMSCAN-S4» создана измерительная система, допущенная к применению в качестве рабочего средства измерений в диапазоне 0.1 — 20.0 мкм с погрешностью не более 5 — 50 нм.