Микроскоп электронный сканирующий LEO EVO 50 xvp (Carl Zeiss)
14 сентября 2018
415
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Томская область, Томск |
| Страна производства | Германия |
| Год производства | 2009 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 12 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Исследование морфологии поверхностей металлических, керамических, полимерных, порошковых материалов, биологических обектов; проведение энергодисперсионного и волнового анализа (EDS) и анализа картин дифракции обратно рассеянных электронов.