Дифрактометр рентгеновский PANalitical XPert PRO MRD (Philips)

Установка позволяет производить исследования кристаллических материалов и искусственных многослойных систем методом дифракции рентгеновских лучей, в том числе - малоугловой. Источником рентгеновского излучения с длиной волны Cu Kα 0,154 нм служит рентгеновская трубка (напряжение 60 кВ, ток 60 мА). Спектральная и угловая монохроматизация зондового пучка осуществляется с помощью четырехкристального асимметричного монохроматора Ge (220). Образец устанавливается на стол с 6-ю степенями свободы, что позволяет изучать локально по всей поверхности как плоские, так и изогнутые образцы. (Коллиматор Соллера, ограничивающий вертикальную расходимость, установлен за щелями детектора и на рисунке не показан).