Оже-электронный спектрометр JAMP-10s (Jeol)
14 сентября 2018
351
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 1983 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 6 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для исследования химического состава сверхтонких поверхностных слоев, растровая электронная микроскопия поверхности.