| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | РФ |
| Год производства | 2010 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Прибор предназначен для исследования рельефа и структуры поверхностей и измерения механических свойств (в том числе твердости и модуля упругости) объемных материалов и тонких пленок на субмикронном и нанометровом масштабе.
Прибор основан на принципах сканирующей силовой микроскопии. Главным отличием является применение пьезорезонансного кантилевера камертонной конструкции с высокой изгибной жесткостью консоли (~2 Х 104 Н/м).
Прибор основан на принципах сканирующей силовой микроскопии. Главным отличием является применение пьезорезонансного кантилевера камертонной конструкции с высокой изгибной жесткостью консоли (~2 Х 104 Н/м).