Электронный сканирующий микроскоп с энергодисперсионным спектрометром Inca X-Act Evo 40 (Carl Zeiss)
14 сентября 2018
341
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Свердловская область, Екатеринбург |
| Страна производства | Великобритания |
| Год производства | 2007 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 12 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для получения изображений объектов в "прямых" электронах и электронах обратного рассеяния. Максимальное паспортное разрешение микроскопа составляет 3 нм. На практике разрешение несколько больше вследствие влияния вибраций и магнитных полей.