Микроскоп сканирующий электронный JSM-6490LV (Jeol) c системой INCA Energy 350 (Oxford Instruments) для рентгеновского энерго-дисперсионного микроанализа и волнодисперсионным спектрометром Inca Wave 700 (Oxford Instruments)
14 сентября 2018
359
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Приморский край, Владивосток |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2008 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | от 26 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | По запросу руководителю ЦКП или заведующему лабораторией микро- и наноисследований |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Аналитическая сканирующая электронная микроскопия с режимами высокого (разрешение 3,0 нм) и низкого вакуума для исследования морфологии, строения и элементного состава (от бериллия до калифорния с чувствительностью до 0,01 % массы) твердых и водонасыщенных образцов