Просвечивающий электронный микроскоп G2 Tecnai G2 (FEI)
14 сентября 2018
276
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Свердловская область, Екатеринбург |
| Страна производства | Нидерланды |
| Год производства | 2005 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | от 15 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для исследования атомно-кристаллической и аморфной структуры любых объектов (неорганических, органических, металлических, керамических, биологических) с высоким разрешением вплоть до атомного. Оборудован системами сканирования, «GATAN» картирования изображений, спектроскопии потерь энергии электронов «EELS» и энергодисперсионным спектрометром «EDAX» для элементного анализа. Оснащен комплектом приставок для нагрева, охлаждения, деформации in situ.