Модульная система для структурного анализа наноструктур для работы в режимах точечной и линейной коллимации SAXSess mc2

14 сентября 2018
436
Классификация оборудования
Страна, регион, город Российская Федерация, Москва
Страна производства Австрия
Год производства 2010
Предоставляемое количество 1
Условия использования
Аренда|Заказ исследования
Стоимостная группа от 10 млн руб
Стоимость предоставления услуг от 12 000 руб.
Регламент предоставления услуги В соответствии с Регламентом доступа к оборудованию и программному обеспечению Головного регионального центра коллективного пользования ФГБОУ ВПО «МГСУ»
Объект коллективного пользования Нет
Наличие аккредитации Нет
Наличие ГОСТированной методики Нет

Описание

Предназначена для определения дисперсного состава наноразмерных объектов методом рентгеновской дифрактометрии
Найти аналог
Вам может быть интересно
Наименование Страна производства Условия использования Расположение
Установка для исследования проникающей способности низкоэнергетических электронов УПРТ-25КУ РФ Аренда, Заказ исследования Рыбинск
Установка для исследования поверхности твердых тел ADES-2 (VARIAN) США Аренда, Заказ исследования Владивосток
Установка для исследования поверхности твердых тел LAS-600 (RIBER) Франция Аренда, Заказ исследования Владивосток
Аппаратно-программный комплекс для управления дифрактометром "Дрон-ЗМ" РФ Аренда, Заказ исследования Тюмень
Рентгеновский дифрактометр ДРОН-7 для поликристаллических материалов РФ Аренда, Заказ исследования Москва
Программно-аппаратный комплекс для обеспечения рентгенофазовых исследований ARL Xtra (Thermo Scientific) США Аренда, Заказ исследования Ярославль
Комплекс дифрактометрический рентгеноструктурного анализа ДРОН-6 (Буревестник) РФ Аренда, Заказ исследования Петрозаводск
Система анализа дифракции отраженных электронов HKL Premium EBSD System Великобритания Аренда, Заказ исследования Новосибирск
Рентгеновский дифрактометр малоуглового рассеяния SAXSess (Anton) Австрия Аренда, Заказ исследования Москва