Сканирующий электронный микроскоп Cross Beam 1540 XB (Carl Zeiss) со встроенным квадрупольным масс-спектрометром
14 сентября 2018
490
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Приморский край, Владивосток |
| Страна производства | Германия |
| Год производства | 2006 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | от 15 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для исследования поверхности с разрешением не хуже 1 нм,подготовка образцов для просвечивающей электронной микроскопии, используя двухлучевую электронную ионную систему