Сканирующий электронный микроскоп Cross Beam 1540 XB (Carl Zeiss) со встроенным квадрупольным масс-спектрометром
14 сентября 2018
270
Классификация оборудования | |
Страна, регион, город | Российская Федерация, Приморский край, Владивосток |
Страна производства | Германия |
Год производства | 2006 |
Предоставляемое количество | 1 |
Условия использования | |
Стоимостная группа | от 10 млн руб |
Стоимость предоставления услуг | от 15 000 руб. |
Регламент предоставления услуги | — |
Объект коллективного пользования | Нет |
Наличие аккредитации | Нет |
Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для исследования поверхности с разрешением не хуже 1 нм,подготовка образцов для просвечивающей электронной микроскопии, используя двухлучевую электронную ионную систему