Сканирующий электронный микроскоп ULTRA 55 Plus (Carl Zeiss)
14 сентября 2018
411
Классификация оборудования | |
Страна, регион, город | Российская Федерация, Приморский край, Владивосток |
Страна производства | Германия |
Год производства | 2009 |
Предоставляемое количество | 1 |
Условия использования | |
Стоимостная группа | от 10 млн руб |
Стоимость предоставления услуг | от 15 000 руб. |
Регламент предоставления услуги | — |
Объект коллективного пользования | Нет |
Наличие аккредитации | Нет |
Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для исследования поверхности с разрешением не хуже 1 нм;
Методы исследования:
• Растровая электронная микроскопия сверхвысокого разрешения
• Просвечивающая растровая электронная микроскопия
• Низкие ускоряющие напряжения (до 100В)
• Энергодисперсионный рентгеновский микроанализ
• Исследование непроводящих материалов используя систему компенса-
ции заряда
• Фильтрация электронов по энергии
Методы исследования:
• Растровая электронная микроскопия сверхвысокого разрешения
• Просвечивающая растровая электронная микроскопия
• Низкие ускоряющие напряжения (до 100В)
• Энергодисперсионный рентгеновский микроанализ
• Исследование непроводящих материалов используя систему компенса-
ции заряда
• Фильтрация электронов по энергии