Сканирующий электронный микроскоп ULTRA 55 Plus (Carl Zeiss)
14 сентября 2018
654
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Приморский край, Владивосток |
| Страна производства | Германия |
| Год производства | 2009 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | от 15 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для исследования поверхности с разрешением не хуже 1 нм;
Методы исследования:
• Растровая электронная микроскопия сверхвысокого разрешения
• Просвечивающая растровая электронная микроскопия
• Низкие ускоряющие напряжения (до 100В)
• Энергодисперсионный рентгеновский микроанализ
• Исследование непроводящих материалов используя систему компенса-
ции заряда
• Фильтрация электронов по энергии
Методы исследования:
• Растровая электронная микроскопия сверхвысокого разрешения
• Просвечивающая растровая электронная микроскопия
• Низкие ускоряющие напряжения (до 100В)
• Энергодисперсионный рентгеновский микроанализ
• Исследование непроводящих материалов используя систему компенса-
ции заряда
• Фильтрация электронов по энергии