Аренда / Заказ исследования Цифровой оптический микроскоп SLD-10 в г.Москва

Классификация оборудования	Приборы для микроскопических исследований
Страна, регион, город	Российская Федерация, Москва
Страна производства	Китай
Год производства	2011
Предоставляемое количество	4
Условия использования	Аренда\|Заказ исследования
Стоимостная группа	до 100 т.р.
Стоимость предоставления услуг	договорная
Регламент предоставления услуги	—
Объект коллективного пользования	Нет
Наличие аккредитации	Нет
Наличие ГОСТированной методики	Нет

Описание

Исследование и визуальный контроль геометрических параметров изделий и возможных дефектов, монтаж электронных компонентов

Найти аналог

Вам может быть интересно

Наименование	Страна производства	Условия использования	Расположение
Микроскоп медицинский инвертированный IX 81 для лабораторных исследований, включая приставку с конфокальной системой FV с модулем детекции на основе фильтров, с 4-мя лазерами (УФ диодный 405 нм, мультилинейный аргоновый 458нм / (476нм) / 488нм / 515 нм; г	Япония	Аренда, Заказ исследования	Пермь
Растровый электронный микроскоп JSM-6460LV (JEOL) с приставкой рентгеновского микроанализа INCAx-sight, приставкой регистрации спектров микро-катодолюминес-ценции MonoCL3 и приставкой регистрации дифракции обратно-рассеянных электронов	Япония	Аренда, Заказ исследования	Москва
Просвечивающий электронный микроскоп высокого разрешения Tecnai G30 STwin 300кВ Tecnai G30 ST 300кВ (FEI)	США	Аренда, Заказ исследования	Москва
Микроскоп прямой Olympus СХ41 с поляризационной насадкой и флуоресцентным осветителем CX-RFA-2 в комплекте с видеокамерой DP71 (12.5 миллиона пикселей, эквивалентна ISO 200/400/800/1600) с программным обеспечением Cell-F, предназначенным для съемки многок	Япония	Аренда, Заказ исследования	Красноярск
Микроскоп для лабораторных исследований Axio Imager со штативом М2. Блок корреляционной микроскопии для биологических исследований (Carl Zeiss)	Германия	Аренда, Заказ исследования	Казань
ИК-микроскоп Idonus IR (Idonus)	Швейцария	Продажа	Москва
Сканирующий электронный микроскоп для работы в режиме высокого и низкого вакуума с системой для микроанализа JEOL JSM-6390LV	Китай	Аренда, Заказ исследования	Пермь
Сканирующий электронный микроскоп типа S-3400N для работы при различных давлениях с приставкой для локального микрорегнгеноспектрального анализа	Япония	Аренда, Заказ исследования	Пермь
Микроскоп LEICA DM IRB (Leica Mirosystems)	Германия	Аренда, Заказ исследования	Новосибирск
Сканирующий электронный микроскоп JSM-6390LV (JEOL), интегрированный с энергодисперсионным анализатором Oxford INCAEnergy (Oxford Instrument)	Великобритания	Аренда, Заказ исследования	Калининград