Вакуумная установка для напыления проводящих и диэлектрических слоев SunPla 600 TEM (SunPlaEng)

Институт физики полупроводников СО РАН
14 сентября 2018
609
Классификация оборудования
Приборы и аппаратура для исследования и анализа поверхности прочие
Страна, регион, город Российская Федерация, Новосибирская область, Новосибирск
Страна производства Корея
Год производства 2013
Предоставляемое количество 1
Условия использования
Аренда|Заказ исследования
Стоимостная группа от 1 до 10 млн. руб.
Стоимость предоставления услуг от 22 000 руб.
Регламент предоставления услуги —
Объект коллективного пользования Нет
Наличие аккредитации Нет
Наличие ГОСТированной методики Нет

Описание

Нанесение тонких металлических и диэлектрических пленок на различные подложки
Найти аналог
Вам может быть интересно
Наименование Страна производства Условия использования Расположение
Микроанализатор с прямым лазерным и с дуговым источниками возбуждения, предназначенный для лазерного элементного спектрального микроанализа органических и неорганических материалов. ОММЗ.450.501-М РФ Аренда, Заказ исследования Санкт-Петербург
Порозиметр Micromeritics AutoPore IV в комплекте с устройством для сбора ртути Micromeritics Mercury Quik Vac США Аренда, Заказ исследования Москва
Высоковакуумный фотоэлекторнный спектрометр ESCAprobe для исследований химических соединений в газовой фазе методами рентгеновской и ультрафиолетовой фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС, УФЭС) Германия Аренда, Заказ исследования Владивосток
Встраиваемый масс-спектрометр - газоанализатор е-Vision 2 (MKS Instrument) для исследования радиационно- и термо- стимулированного газовыделения из металлов и сплавов США Аренда, Заказ исследования Томск
Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр с построением изображения для фундаментальных и прикладных исследований полупроводниковых материалов Axis UltraDLD (Kratos) Великобритания Аренда, Заказ исследования Москва
Приставка для анализа тонких пленок в комплекте с программным обеспечением к рентгеновскому дифрактометру XRD-7000 (Shimadzu) Япония Аренда, Заказ исследования Пермь
Аналитический комплекс для характеризации свойств поверхноститвердого тела методом полной эллипсометрии ЭЛЛИПС-АМ РФ Аренда, Заказ исследования Новосибирск
Прибор для изучения физической адсорбции Gemini VII 2390 Surface Area Analyzer США Аренда, Заказ исследования Москва
Фотоэлектронный спектрометр для исследования химического состава наночастиц на поверхности твердого тела Польша Аренда, Заказ исследования Санкт-Петербург
Комплект дополнительного оборудования для проведения исследований на рентгено-флуоресцентном спектрометре Швейцария Аренда, Заказ исследования Саранск