Сканирующий электронный микроскоп JSM-5910LV (JEOL)
14 сентября 2018
410
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2001 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 12 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Сканирующий (растровый) электронный микроскоп предназначен для исследования микро- и наноструктуры поверхности различных образцов. Оснащение приставками для ЭДС, ВДС и ДОРЭ позволяет проводить анализ элементов от бора до урана, изучать структуру и текстуру кристаллов