Сканирующий тунельный микроскоп OMICRON VT AFM XA
14 сентября 2018
225
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | Германия |
| Год производства | 2009 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | от 15 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для туннельной микроскопии и спектроскопии поверхности металлов и полупроводников в условиях сверхвысокого вакуума (P < 10-10 мбар). Исследование образцов при застабилизированной температуре 35 К < T < 500 K с использованием проточного криостата He-4 и нагревателя.