Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр Kratos AXIS Ultra DLD
14 сентября 2018
480
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | Великобритания |
| Год производства | 2009 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Многофункциональный прибор для РФЭС и Оже спектроскопии высокого разрешения. В приборе реализована методика лектронной спектро- и микроскопии, что позволяет исследовать: Элементный качественный и количественный состав (РФЭС, ОЖЕ). Химические состояния элементов на поверхности. Электронную структуру валентной зоны (УФ спектроскопия). Распределения элементов по поверхности (РФЭС, ОЖЕ) – картирование. Получение изображения в режиме СЭМ с пространственным разрешением 100 нм.