Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным пучком VERSA 3D HighVac (FEI)
14 сентября 2018
320
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | Нидерланды |
| Год производства | 2012 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 6 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
VERSA 3D HighVac – прибор, комбинирующий в себе возможности сканирующего электронного микроскопа и фокусированного ионного источника, предназначен для проведения исследований структуры и элементного состава поверхности образцов, а также их приповерхностных слоев. С помощью системы газо-химии на поверхность образца можно наносить проводящие покрытия и формировать микроструктуры. Специальное программное обеспечение позволяет проводить реконструкцию и визуализацию 3D структуры материала.