Двухлучевая система с интегрированным сканирующим лазером - Электронный микроскоп Zeiss Auriga
14 сентября 2018
391
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Санкт-Петербург |
| Страна производства | Германия |
| Год производства | 2012 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | от 3 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
исследование структур и материалов с нанометровым разрешением методами РЭМ; наномодификация структур и материалов методами ФИП, в том числе пробоподготовка для ПЭМ; микромодификация структур и материалов лазерным лучом.