Сканирующий (растровый) электронный микроскоп "JSM 6510 LV SSD X-MAX" в комплекте с приставкой зондового микроанализа и напылительной установкой (JEOL)
14 сентября 2018
471
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | Великобритания |
| Год производства | 2010 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 50 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Исследование морфологии поверхности, определение размеров фрагментов изображений и частиц, элементный анализ поверхности