Электронный просвечивающий микроскоп высокого разрешения JEM-2200FS-CS (JEOL)

Аналитический высокоразрешающий электронный микроскоп просвечивающего типа фирмы Jeol (JEM-2200FS-CS) предназначен для исследования атомной структуры вещества с одновременным проведением локального химического анализа с возможностью визуализации картин распределения химических элементов по площади исследуемых объектов. Данный микроскоп обеспечивает возможность изучения широкого класса материалов, таких как ультрадисперсные и нанофазные объекты химии и катализа; неорганические материалы, включая высокотемпературные сверхпроводники и различные формы углерода (фулерены, бакитрубки, алмазы и алмазоподобные вещества); новые материалы полупроводниковой твердотельной электроники, включая системы пониженной размерности; природные материалы различного генезиса; объекты биологии и биомедицины. Микроскоп обеспечивает работу в режимах высокоразрешающей просвечивающей электронной микроскопии (ВРЭМ), сканирующей просвечивающей микроскопии (СПМ), темного и светлого поля, включая HAADF-режим, получение дифракционных картин, включая дифракцию в сходящихся пучках, проведение спектрального анализа и картирования с помощью EDS и EELS. Разрешающая способность: по точкам – 0,19 нм; по решетке – 0,1 нм; в режиме картирования – 0,2 нм; в режиме HAADF – 0,14 нм.