Проходная камера CK-581 (Multitest Elektronische System)
14 сентября 2018
236
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | Германия |
| Год производства | 2010 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | от 2 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначена для измерения внешним измерителем электрических параметров микросхем в спутниках - носителях при положительных и отрицательных температурах, сортировки их по группам годности.
| Наименование | Страна производства | Условия использования | Расположение |
|---|---|---|---|
| Высокоскоростная электронно-оптическая камера К 011 | РФ | Аренда, Заказ исследования | Самара |
| Камера импульсных процессов КИП-0,2 | РФ | Аренда, Заказ исследования | Бийск |
| СКВИД-магнитометр 755 Superconducting Rock Magnetometer System (2G Enterprises) | США | Аренда, Заказ исследования | Санкт-Петербург |
| Система высокопроизводительного секвенирования MiSeq System с комплектующими | Австралия | Аренда, Заказ исследования | Ростов-на-Дону |