| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2011 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 40 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
JEM-2100 построен на основе легендарного ПЭМ JEM-2010, который долгое время считался стандартом «де факто» в промышленных приложениях электронной микроскопии и демонстрировал наилучшие показатели надежности, качества изображений и аналитических возможностей среди всех 200 кВ электронных микроскопов высокого разрешения. JEM-2100 имеет улучшенную систему управления и более совершенную защиту от вибраций. На прибор можно устанавливать различные приставки: ЭДС и сканирующую приставки, различные детекторы (темного поля, вторичных и обратно-рассеянных электронов, и т.д.), держатели с охлаждением или нагревом, и т.п. Использование в приборе катода из гексаборида лантана (LaB6) существенно снижает стоимость владения данным прибором.Ускоряющее напряжениеот 80кВ до 200 кВ Разрешение по точкам0.19 нм Разрешение по линиям0.14 нм Электронная пушкаLaB6 УвеличениеX50 – x1,500,000