Растровый электронный микроскоп JSM-6490 LV (JEOL)
14 сентября 2018
241
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Красноярский край, Красноярск |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2007 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | от 40 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для топографического качественного фазового анализа поверхностей; исследование микроструктуры различных материалов неорганического происхождения; возможность исследования крупногабаритных образцов (высота до 45 мм, диаметр до 200 мм).