Сканирующий зондовый микроскоп JSPM 5400 (JEOL)
14 сентября 2018
250
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Краснодарский край, Краснодар |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2007 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 35 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Исследование структуры поверхности нано материалов методами атомно-силовой (магнитно-силовой, электро-силовая, SKPM, диссипативной силовая, латерально-силовой, фазовой спектроскопии, силовой спектроскопии, наноиндентирования, наноманипулирования, нанолитографии) микроскопии, а также методами туннельной микроскопии.