Конфокальный лазерный сканирующий микроскоп KEYENCE VK-X100/X200 (Keyence)
14 сентября 2018
340
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2014 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 25 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для измерения профиля и шероховатости поверхности. Лазерный сканирующий микроскоп (ЛСМ) удобен в эксплуатации, так как у него отсутствует вакуумная система. Для проведения исследований не требуется предварительной подготовки образца.