Прибор для измерения толщины покрытий Cat-S-AX-0000 (CSM Instruments)

14 сентября 2018
505
Классификация оборудования
Страна, регион, город Российская Федерация, Томская область, Томск
Страна производства Швейцария
Год производства 2001
Предоставляемое количество 1
Условия использования
Аренда|Заказ исследования
Стоимостная группа до 500 000 тыс. руб.
Стоимость предоставления услуг от 15 000 руб.
Регламент предоставления услуги
Объект коллективного пользования Нет
Наличие аккредитации Нет
Наличие ГОСТированной методики Нет

Описание

Предназначен для измерения толщины тонких пленок
Найти аналог
Вам может быть интересно
Наименование Страна производства Условия использования Расположение
Оптический спектрометр для работы в диапазоне длин волн от вакуумного ультрафиолета до инфракрасной области McPherson 225 NOVA США Аренда, Заказ исследования Санкт-Петербург
Аналитический комплекс на базе аппарата рентгеновского для спектрального анализа «Спектроскан Макс G» Великобритания Аренда, Заказ исследования Калининград
Вакуумная камера для квази-монохроматического источника рентгеновского излучения с плавно перестраиваемой линией РФ Аренда, Заказ исследования Белгород
Аналитический комплекс на базе аппарата рентгеновского для спектрального анализа РФ Аренда, Заказ исследования Санкт-Петербург
Датчик для снятия показаний на электронный блок к дефектоскопу РФ Аренда, Заказ исследования Белгород
Комплекс для снятия характеристик пьезоэлектрических преобразователей Спектр-П РФ Аренда, Заказ исследования Санкт-Петербург
Комплект оборудования для мониторинга радона РФ Аренда, Заказ исследования Ставрополь
Стенд для имитации дефектов РФ Аренда, Заказ исследования Томск
Спектральный комплекс Vertex/Senterra (Bruker) для инфракрасной спектроскопии и комбинационного рассеяния света с комплектом для пробоподготовки Германия Аренда, Заказ исследования Казань
Многофункциональный вихретоковый прибор МВП-2М (экспертный комплект) РФ Аренда, Заказ исследования Санкт-Петербург