Анализатор удельной поверхности и пористости Nova 4200e (Quantachrome)
14 сентября 2018
441
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | США |
| Год производства | 2012 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 30 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для измерения удельной площади поверхности по методам БЭТ, STSA, Лэнгмюра и другими методами, а также анализа размеров пор и их распределения по размерам по различным моделям.