Растровый электронный микроскоп с автоэмиссионным катодом JEOL JSM-7800F PRIME
14 сентября 2018
309
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2012 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 15 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения с супергибридной объективной линзой, в котором реализованы все последние достижения в технологии электронной оптики.
Пространственное разрешение - 0,7 нм при 15 кВ; 0,7 нм при 1 кВ; 3нм при 15 кВ, на рабочем отрезке 10 мм и токе зонда 5 нА (режим анализа).
Электронная пушка - термополевая, типа Шоттки.
Ускоряющее напряжение - от 0,01кВ до 30 кВ.
Диапазон токов пучка - до 500 нA.
Диапазон увеличений - от х25 до х1000000.
Столик образцов - большой, эвцентрического типа, диапазон перемещений: Х: 70мм, Y: 50мм, Z: от 2 до 25 мм. Наклон от -5 до 70 градусов. Вращение 360 градусов.
Пространственное разрешение - 0,7 нм при 15 кВ; 0,7 нм при 1 кВ; 3нм при 15 кВ, на рабочем отрезке 10 мм и токе зонда 5 нА (режим анализа).
Электронная пушка - термополевая, типа Шоттки.
Ускоряющее напряжение - от 0,01кВ до 30 кВ.
Диапазон токов пучка - до 500 нA.
Диапазон увеличений - от х25 до х1000000.
Столик образцов - большой, эвцентрического типа, диапазон перемещений: Х: 70мм, Y: 50мм, Z: от 2 до 25 мм. Наклон от -5 до 70 градусов. Вращение 360 градусов.