Сканирующий зондовый микроскоп СММ-2000 (Протон-МИЭТ)
14 сентября 2018
300
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Мурманская область, Мурманск |
| Страна производства | РФ |
| Год производства | 2012 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 500 тыс. до 1 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 5 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для измерений геометрических и физических параметров топографии поверхности образцов с нанометровым пространственным разрешением без их вакуумирования (диапазон измерений от 0,1нм до 30мкм). Микроскоп СММ-2000 применяется при проведении фундаментальных и прикладных научных исследований, а также для технологического контроля.
Микроскоп СММ-2000 - мультирежимный, он имеет три базовых режима - STM (сканирующая туннельная микроскопия), AFM (атомно-силовая микроскопия) и VAFM (вибрационная атомно-силовая микроскопия).
Микроскоп СММ-2000 - мультирежимный, он имеет три базовых режима - STM (сканирующая туннельная микроскопия), AFM (атомно-силовая микроскопия) и VAFM (вибрационная атомно-силовая микроскопия).