| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | Германия |
| Год производства | 2012 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
В микро- и наноэлеткронике для получения и анализа данных о профиле поверхности образца. Сканирование поверхности с помощью стилуса (контактный метод), измерение шероховатости поверхности.2D-измерение профиля поверхности; возможность 3D-измерения / анализа.