| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | Польша |
| Год производства | 2013 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | от 3 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Исследование топографии и структуры поверхности, получение изображения во вторичных и обратно - рассеянных электронах. Рентгеноспектральный микроанализ элементного состава с использованием энергодисперсионного спектрометра (EDS). Послойное удаление материала для проведения анализа дефектов в зависимости от глубины в материале. Модификация поверхности образцов сфокусированным пучком ионов галлия.