Электронно-зондовый микроанализатор JXA-8230 Superprobe (JEOL)

14 сентября 2018
302
Классификация оборудования
Страна, регион, город Российская Федерация, Челябинская область, Миасс
Страна производства Япония
Год производства 2015
Предоставляемое количество 1
Условия использования
Аренда|Заказ исследования
Стоимостная группа от 1 до 10 млн. руб.
Стоимость предоставления услуг от 20 000 руб.
Регламент предоставления услуги —
Объект коллективного пользования Нет
Наличие аккредитации Нет
Наличие ГОСТированной методики Нет

Описание

Предназначен для микроанализа образцов, их структуры и элементного анализа в микрообъеме. Одним из самых распространенных и эффективных методов, лежащим в основе работы современных микроанализаторов, является микрозондовый (микрорентгеноспектральный) анализ. Образец сканируется электронным микрозондом (пучок электронов до 1 мкм). Под действием этого пучка электронов в микрообъеме образца возникает рентгеновское характеристическое излучение, , а его интенсивность зависит от содержания исследуемого элемента в микрообъеме образца. Это излучение фиксируется спектрометрами, а полученная информация обрабатывается и предоставляется в удобном виде. Таким образом можно выполнять качественный и количественный микроанализ содержания элементов в лабораторных образцах.
Найти аналог
Вам может быть интересно
Наименование Страна производства Условия использования Расположение
Многолучевая система JIB-4500 Multibeam (Jeol), оснащенная электронной и ионной пушкой Япония Аренда, Заказ исследования Санкт-Петербург
Растровый электронный микроскоп JSM-6490LV (JEOL) Япония Аренда, Заказ исследования Москва
Растровый электронный микроскоп JSM-6460LV (JEOL) с приставкой рентгеновского микроанализа INCAx-sight, приставкой регистрации спектров микро-катодолюминес-ценции MonoCL3 и приставкой регистрации дифракции обратно-рассеянных электронов Япония Аренда, Заказ исследования Москва
Сканирующий электронный микроскоп JSM-6390LV (JEOL), интегрированный с энергодисперсионным анализатором Oxford INCAEnergy (Oxford Instrument) Великобритания Аренда, Заказ исследования Калининград
Просвечивающий электронный микроскоп JEOL JEM-2100F с системой подготовки проб РФ Аренда, Заказ исследования Томск
Растровый электронный микроскоп JSM 6510LA (JEOL) Япония Аренда, Заказ исследования Челябинск
Термополевой просвечивающий электронный микроскоп JEOL JEM-3200FS Япония Аренда, Заказ исследования Москва
Просвечивающий электронный микроскоп высокого разрешения JEM 2100F (JEOL) Япония Аренда, Заказ исследования Санкт-Петербург
Система микроанализа для растрового электронного микроскопа JEOL JSM-6490LV Великобритания Аренда, Заказ исследования Магнитогорск
Просвечивающий электронный микроскоп JEM-2100 (JEOL) Япония Аренда, Заказ исследования Москва