Динамический термомеханический спектрометр EXSTAR DMS 6100 (SII NanoTechnology)

Позволяет изучать механические характеристики материала такие как модуль упругости, модуль потерь, тангенс угла механических потерь и другие как функцию от температуры, времени, частоты, нагрузки, атмосферы или их комбинации. Усовершенствованная конструкция позволяет прикладывать к образцу нагрузки до 18 Н, что делает прибор пригодным для анализа самого широкого круга образцов, жесткость которых варьируется от волокон и пленок до брусков наполненных композитных материалов. Основные особенности прибора: Режим синтезированных колебаний - разработан фирмой SII и представляет собой приложение суперпозиции различных частот колебаний к образцу с одновременной регистрацией сигналов на каждой из них. Режим сильно увеличивает производительность прибора и позволяет изучать материалы с более высокой скоростью нагревания. EXSTAR DMS6100 использует преобразование Фурье для анализа полученного сигнала, позволяя выделять даже слабые переходы на зашумленных кривых. Функция коррекции термического расширения образца, позволяющая разделить сигналы деформации образца и термического расширенияРазличные режимы деформации образца (сдвиг, растяжение, сжатие, изгиб) и зажимы для широкого круга материалов.