Сканирующий (растровый) электронный микроскоп высокого разрешения JSM-7800F (JEOL)

Позволяет исследовать широкий спектр материалов позволяя получать изображения с очень высоким разрешением. Это достигается за счет технических решений примененных при создании микроскопа. В электронно-оптической колонне реализовано технология Shottky In-Lens FEG заключающая в том, что катод находится внутри конденсорной линзы это позволяет более эффективно, по сравнению с обычным размещением катода, собирать эмитируемы с катода электроны и фокусировать их. Супергибридная объективная линза позволяет значительно уменьшить хроматические и сферические аберации, что позволяет существенно улучшить разрешение, особенно при малых ускоряющих напряжениях. Микроскоп оснащен системой Gentle Beam (GB) которая позволяет уменьшать скорость электронов падающего пучка и ускорять испускаемые электроны, что существенно улучшает соотношение сигнал/шум и позволяет значительно улучшить качество изображения при низких ускоряющих напряжениях.