Просвечивающий электронный микроскоп сверхвысокого разрешения JEOL JEM-ARM200F
14 сентября 2018
312
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | Япония |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
Описание
Эта модель оснащается штатным встроенным корректором сферических аббераций для ПРЭМ режима. Благодаря корректору удалось значительно повысить разрешение и аналитические возможности этого прибора, открывающие возможности изучения образцов на атомном уровне. Разрешение в растровом просвечивающем режиме составляет (STEM-HAADF) 0,08 нм, что является наивысшим значением в мире среди серийных моделей электронных микроскопов.
Электронный зонд после коррекции всех аберраций отличается тем, что он имеет на порядок большую плотность тока по сравнению с обычными просвечивающими электронными микроскопами. При тонкой фокусировке такого зонда микроскоп JEM-ARM200F позволяет проводить анализ на атомном уровне при значительном сокращении времени измерения и повышения производительности исследований.
Электронный зонд после коррекции всех аберраций отличается тем, что он имеет на порядок большую плотность тока по сравнению с обычными просвечивающими электронными микроскопами. При тонкой фокусировке такого зонда микроскоп JEM-ARM200F позволяет проводить анализ на атомном уровне при значительном сокращении времени измерения и повышения производительности исследований.