Сканирующий электронный микроскоп JSM-6610LV (JEOL) с энергодисперсионным анализатором Inca-350
14 сентября 2018
374
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Омская область, Омск |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2010 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | от 2 050 руб. |
| Регламент предоставления услуги | 1. Исследование морфологии и структуры металлов и сплавов, катализаторов и адсорбентов. Локальный элементный (полу) количественный анализ поверхности этих объектов.2. Определение размеров и микросостава поверхностных фаз, микрокристаллитов соединений в ма |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Исследование морфологии и структуры поверхности твердых веществ и материалов, а также локальный микроанализ. Прибор - многопользовательская система с двумя детекторами. Электронная пушка полностью автоматизирована. При изменении ускоряющего напряжения не требуется каких-либо дополнительных настроек.