Электронный сканирующий микроскоп JSM 7700F (JEOL) в комплекте с приставкой для энергодисперсионного анализа JED 2300 и напылительной установкой
14 сентября 2018
308
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Приморский край, Владивосток |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2014 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 25 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Сканирующий электронный микроскоп используется в различных областях, таких как медицинские, биологические , металлов, полупроводников и керамики, его область применения постоянно расширяется. В сочетании с другими устройствами его способности увеличиваются.