Сканирующий электронный микроскоп JSM 6490 LV (JEOL), оборудованный системой микроанализа
14 сентября 2018
329
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2011 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 25 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Полностью автоматизированная система электронной оптики для использования всех возможностей инструмента оператором, даже с минимальным набором знаний. На колонну микроскопа можно одновременно монтировать от одного до трёх дополнительных спектрометров. Энерго-дисперсионный спектрометр (EDS), волновой спектрометр (WDS), детектор картин дифракции отражённых электронов (EBSD). С помощью этих аналитических приставок вы сможете получать информацию не только о морфологии поверхности, но и о составе образца на субмикронном уровне, получать картины распределения элементов по выбранной площади образца, вдоль линии, а также кристаллографическую информацию от микрозёрен. Важно, что спектрометры работают в единой программе.