Система контрольно-измерительная для функционального и параметрического контроля БИС и ИМС Тестер FORMULA 2К

Система для функционального и параметрического контроля. Относится к средствам измерений общего и специального назначения. Предназначена для динамического, статистического, функционального и параметрического контроля цифровых микросхем произвольной структуры (ТТЛ, КМОП) регулярной логики (ОЗУ), а также для измерений аналоговых и цифро-аналоговых микросхем на пластине и в корпусе:измерение токов и напряжений – (0,5 - 1)%, т.е до нА;измерение временных характеристик – до 1 нс;время измерения от 2 сек по заданным параметрам ТУ.Область применения Тестера — динамический и статистический функциональный контроль, измерение и исследование параметров и функционирования микросхем при их разработке, испытаниях, производстве, а также на входном контроле.