Сканирующий электронный микроскоп EVO 40EP (Carl Zeiss), укомплектованный системой микроанализа Oxford INCA 350
14 сентября 2018
292
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Санкт-Петербург |
| Страна производства | Германия |
| Год производства | 2013 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 25 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Получение изображений методом СЭМ проводящих и непроводящих материалов с пространственным разрешением в нанодиапазоне; анализ изображений с получением численных данных о размерах и форме нанокристаллитов (гранул), пор, межкристаллитных границ и других особенностей структуры; количественный и качественный состав анализируемого вещества.
Разрешение: вольфрамовый катод - 3,0 нм; гексаборид лантана - 2,0 нм; в режиме сверхнизкого вакуума - 4,5 нм. Ускоряющее напряжение: 0,2530 кВ. Рабочие токи: 0,5 пА - 5 мкА. Аналитическое расстояние может быть установлено пользователем в пределах от 8,5 до 20 мм.
Разрешение: вольфрамовый катод - 3,0 нм; гексаборид лантана - 2,0 нм; в режиме сверхнизкого вакуума - 4,5 нм. Ускоряющее напряжение: 0,2530 кВ. Рабочие токи: 0,5 пА - 5 мкА. Аналитическое расстояние может быть установлено пользователем в пределах от 8,5 до 20 мм.