Зондовый микроскоп MultiMode NanoScope IIIa SPM System (Veeco)
14 сентября 2018
303
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Красноярский край, Красноярск |
| Страна производства | США |
| Год производства | 2013 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 20 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Используя различные измерительные компоненты, система позволяет проводить исследования топографии поверхности, шероховатости, распределения частиц по размерам и высоте и т. д., выполнять измерения магнитных характеристик, например, доменной структуры, а также исследования микроскопии сопротивления растекания.