| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | РФ |
| Год производства | 2007 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | от 10 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | В соответствии с регламентом доступа к оборудованию ЦКП |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
- определение морфологии поверхности, линейных размеров, фазового контраста различных материалов, включая тонкие пленки, покрытия, микро- и нанодисперсные материалы, нанокомпозиты, объемные аморфные и кристаллические материалы, методами сканирующей ионной и зондовой микроскопией;- определение неоднородности химического состава, толщин, пористости, дефектности слоев, степени кристалличности, поверхностной и межслойной шероховатости многослойных;- комплексные исследования методами фокусированного ионного пучка и атомно-силовой микроскопии химического состава поверхности материала, топографии, распределения электрических, магнитных и других свойств полимерных композиционных и полупроводниковых материалов, тонких пленок, поверхностных слоев и покрытий;- осаждение тонких пленок, поверхностных слоев и покрытий методом импульсного лазерного осаждения;- формирование объемных структур на поверхности материалов методом фокусированного ионного пучка, в т.ч. для создания дифракционных оптических элементов.- нанесение упрочняющих покрытий и многослойных структур различного функционального назначения, в т.ч. барьерных, износостойких, высокой твердости, проводящих и диэлектрических покрытий;- нанесение наноразмерных покрытий и различных слоев методом импульсной лазерной абляции.
