Модуль оптической профилометрии MicroXAM-100 (KLA-Tencor Corp.)

14 сентября 2018
567
Классификация оборудования
Страна, регион, город Российская Федерация, Москва
Страна производства США
Год производства 2011
Предоставляемое количество 1
Условия использования
Аренда|Заказ исследования
Стоимостная группа от 1 до 10 млн. руб.
Стоимость предоставления услуг от 15 000 руб.
Регламент предоставления услуги —
Объект коллективного пользования Нет
Наличие аккредитации Нет
Наличие ГОСТированной методики Нет

Описание

Предназначен для измерения неровностей поверхности оптическим методом. Для оценки неровности поверхности часто используют специальный показатель - шероховатость поверхности. Содержит шкалу, на которой и отсчитываются значения показателя шероховатости поверхности.
Найти аналог
Вам может быть интересно
Наименование Страна производства Условия использования Расположение
Оже электронный спектрометр DESA-100 (Staib) Германия Аренда, Заказ исследования Воронеж
Кондуктометр, солемер, термометр COM 100 (HM Digital) США Аренда, Заказ исследования Новочеркасск
Наносклерометрический модуль для СЗМ комплекса Интегра Прима «ЗАО НТМДТ» РФ Аренда, Заказ исследования Воронеж
Аналитико-технологический модуль вторично-ионной масс-спектроскопии и наноэлектронной имплантации SIMS01 РФ Аренда, Заказ исследования Москва
Рабочий модуль установки магнетронного напыления с замкнутым полем с монтажом и наладкой РФ Аренда, Заказ исследования Москва
Хромато-масс-спектрометр гибридный квадрупольный Xevo QTof UPLC (Waters Corp) США Аренда, Заказ исследования Екатеринбург
Измерительно-калибровочная система Alpha‐Step D‐200 (KLA-Tencor) США Аренда, Заказ исследования Воронеж