| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | РФ |
| Год производства | 2011 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Используется для изучения свойств поверхности, а также объектов на нано-метровом уровне. Основной методикой, используемой сканирующими зондовыми микроскопами, является AFM (atomic force microscopy) – ACM (атомно-силовая микроскопия), которая позволяет получить данные о размерах, геометрической форме и структуре микро- и наночастиц, адгезированных на поверхностях различного типа, а также о морфологии любой твердой (в т.ч. пористой) поверхности.