Сканирующий электронно-ионный микроскоп Neon 40 (Carl Zeiss)
14 сентября 2018
303
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Тамбовская область, Тамбов |
| Страна производства | Германия |
| Год производства | 2014 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 15 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Позволяет осуществлять ионно-лучевые литографические
операции, исследовать микрорельеф поверхности
твердых тел, проводить количественный и
качественный элементный микроанализ их
состава, определять фазовый состав
приповерхностных слоев, проводить послойный
анализ материалов.
операции, исследовать микрорельеф поверхности
твердых тел, проводить количественный и
качественный элементный микроанализ их
состава, определять фазовый состав
приповерхностных слоев, проводить послойный
анализ материалов.